Jean-Pierre Frangi
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**[[Résumés des article publiés #Dickey, J. O., S. L. Marcus, and O. de Viron|J.-P. Frangi, D. Richard, X. Chavanne, I. Bexi, F. Sagnard, V. Guilbert]], <u>New in situ techniques for the estimation of the dielectric properties and moisture content of soils.</u> Elsevier, CR Geoscience 341 (2009) 831-845. doi:10.1016/j.crte.2009.08.004.
**[[Résumés des article publiés #Dickey, J. O., S. L. Marcus, and O. de Viron|J.-P. Frangi, D. Richard, X. Chavanne, I. Bexi, F. Sagnard, V. Guilbert]], <u>New in situ techniques for the estimation of the dielectric properties and moisture content of soils.</u> Elsevier, CR Geoscience 341 (2009) 831-845. doi:10.1016/j.crte.2009.08.004.
**[[Résumés des article publiés #Dickey, J. O., S. L. Marcus, and O. de Viron|X. Chavanne, J.-P. Frangi, G. de Rosny.]], <u>NA New Device for in situ Measurement of an Impedance Profile at 1–20 MHz.</u> IEEE Trans. on Instr. and Meas. Vol. 59. Digital Object Identifier 10.1109/TIM.2009.2028781.
**[[Résumés des article publiés #Dickey, J. O., S. L. Marcus, and O. de Viron|X. Chavanne, J.-P. Frangi, G. de Rosny.]], <u>NA New Device for in situ Measurement of an Impedance Profile at 1–20 MHz.</u> IEEE Trans. on Instr. and Meas. Vol. 59. Digital Object Identifier 10.1109/TIM.2009.2028781.
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Version du 13 février 2010 à 14:12


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